新闻中心您的位置:网站首页 >新闻中心 > 你对原子力显微镜了解有多少呢
你对原子力显微镜了解有多少呢
发布时间:2018-10-24   点击次数:16次

  原子力显微镜(atomic force microscope,简称AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。

  由于原子力显微镜既可以观察导体,也可以观察非导体,从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德·宾宁与斯坦福大学的Calvin Quate于一九八五年所发明的,其目的是为了使非导体也可以采用类似扫描探针显微镜(SPM)的观测方法。

  原子力显微镜(AFM)与扫描隧道显微镜(STM)最大的差别在于并非利用电子隧穿效应,而是检测原子之间的接触,原子键合,范德瓦耳斯力或卡西米尔效应等来呈现样品的表面特性。

  生物型原子力显微镜

  它主要由带针尖的微悬臂、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。

  微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测,当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时,检测该斥力可获得表面原子级分辨图像,一般情况下分辨率也在纳米级水平。

  AFM测量对样品无特殊要求,不需要对样品进行特殊处理,仅在大气环境下就可测量固体表面、吸附体系等,得到三维表面粗造度等信息。

分享到:

返回列表返回顶部
北京中显恒业仪器仪表有限公司 版权所有    网站地图    京ICP备10038819号-5   技术支持:中国仪表网   管理登陆

地址:北京市昌平区回龙观镇黄平路吉晟别墅21-17栋(总部)
在线客服
手机
18801037658